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SC2020晶體管參數測試系統
SC2020晶體管參數測試系統系統概述
SC2020晶體管參數測試系統是我司自主研發(fā)的半導體分立器件電學參數測試的專用設備，主要用于半導體器件生產廠家進行圓片中測或封裝成測，各類整機廠家、科研院所的質量檢測部門IQC進行來料檢驗，研發(fā)部門進行失效分析、選型配對、可靠性分析測試。
系統為桌面放置的臺式機結構，由測試主機和程控電腦兩大部分組成。外掛各類夾具和適配器，還能夠通過Prober接口、Handler接口可選（16Bin）連接分選機和機械手建立工作站，實現快速批量化測試。通過軟件設置可依照被測器件的參數等級進行自動分類存放。能夠極好的應對“來料檢驗 ”“失效分析 ”“選型配對 ”“量產測試 ”等不同應用場景。
系統軟件基于Labview平臺開發(fā)，填充式菜單界面，帶自動糾錯功能，可進行器件參數的分檔、分類編程，并可實時顯示和記錄分檔、分類測試結果，測試結果和統計結果均可以EXCEL格式存貯于計算機中，根據需要可以打印輸出。
SC2020晶體管參數測試系統系統特點
◆ 系統采用大規(guī)模32位ARM&MCU設計
◆ 可測試7大類26分類的電子元器件
◆ 程控高壓源1400V，提供2000V選配
◆ 程控高流源40A，提供100A,200A,500A 選配
◆ 控制極電壓可達40V，電流可達100mA
◆ 系統數據采集采用16位ADC，1M/S采樣速率
◆ 測試漏流分辨率達1.5pA
◆ 四線開爾文連接保證加載測量的準確
◆ Prober接口、Handler接口可選（16Bin）
◆ 連接分選機可達測試量為每小時1萬個
◆ 可為用戶提供豐富的測試適配器
◆ 可選配測試結電容，諸如Ciss，Crss，Coss；
◆ 系統符合《GJB128半導體分立器件試驗方法》等相應的國軍標及國際標準。
SC2020晶體管參數測試系統系統指標
?技術指標
系統功能模塊
量程
分辨率
精度
低壓源（FV）
0～±40V
1uV
±0.1%
低流源（FI）
0～±100mA
1pA
高壓源（HVS）
0～±1400V/2000V
1mV
±0.5%
高流源（HIS）
0～±40A/100A/200A/500A
1uA
±1%
電壓測量(MV)
電流測量(MI)
?測試能力
器件種類
測試參數
二極管類
(含TVS SBD ZENER整流橋)
BVR、IR、VF、VZ、RZ、ZZ、Vrrm、Irrm、Tr（選配）
三極管
BVCBO、BVCEO、BVCES、BVEBO、HFE、ICBO、ICEO、ICES、IEBO、VBESAT、VCESAT、VBE、選配（Ciss、Coss、Crss）
可控硅/雙向可控硅
IGT、VGT、VTM、VDRM、VRRM、IH、IL、IDRM、IRRM
場效應管
VGSTH、IDSS、BVDSS、VDSON、IGSS、VSD、VGSON、IDON、RDSON、GFS、選配（Ciss、Coss、Crss）
IGBT
BVCES、BVGES、ICES、IGES、VCESAT、VGETH、VCEON、VGEON、VF、ICON、選配（Ciss、Coss、Crss）
壓敏電阻
VRRM、VDRM、IRRM、IDRM、Cka
光耦
VF、IR、BVCEO、VF、IR、BVCEO、BVECO、ICEO、CTR、VCESAT、
選配（Tr、Tf）
三/四端穩(wěn)壓器
Vout、Iin、IB、VD、Max_lo、Ro
繼電器
Vf、Ir、Vl、Il、Ift、Ron、選配（Ton、Toff）
功率驅動器、
高邊功率開關
Vbb(AZ)、Von(CL)、Rson、Ibb(off)、Il(lim)、Coss、Fun_pin_volt、lvs(off)、lvs(on)、Rson_h、Rson_l、lin、Iinh、ls_Volt、Sr_volt
電壓保護器
Vrrm、Vdrm、Irrm、Idrm、Cka、△Vr
基準IC模塊
Vref、 △Vref、lref、Imin、loff、Zka、Vka
傳感監(jiān)測類
電流傳感器（ACS712XX系列、CSNR_15XX系列）（選配）；
霍爾器件（MT44XX系列、A12XX系列）（選配）；
電壓監(jiān)控器（選配）；電壓復位IC（選配）；
SC2020晶體管參數測試系統測試原理
1）閾值電壓測試電路
2）集射極截止電壓/集射極截止電流測試電路
3）IGBT 飽和壓降/FRD 正向導通壓降測試電路
4）柵極漏電流測試電路
滬公網安備 31010102004821號
